簡(jiǎn)要描述:中圖儀器二次元檢測(cè)影像儀測(cè)量設(shè)備針對(duì)接觸式測(cè)量無(wú)法實(shí)現(xiàn)接觸的特征,可通過(guò)光學(xué)放大及光強(qiáng)調(diào)節(jié)進(jìn)行測(cè)量,搭配智能對(duì)焦系統(tǒng),可以輕松識(shí)別邊緣,快速定位產(chǎn)品輪廓特征,影像聚焦功能也能滿足現(xiàn)場(chǎng)產(chǎn)品尺寸高度、平面度的檢測(cè)需要;搭配多種復(fù)合傳感器,實(shí)現(xiàn)二維平面尺寸+高度尺寸一次性測(cè)量 ,也可隨意搭配常規(guī)的卡尺、高度計(jì)等檢測(cè)工具,一次測(cè)量后數(shù)據(jù)傳輸?shù)蕉ㄖ茍?bào)告模板中。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,交通,航天,汽車 |
中圖儀器二次元檢測(cè)影像儀測(cè)量設(shè)備通用性強(qiáng),光學(xué)測(cè)量針對(duì)接觸式測(cè)量無(wú)法實(shí)現(xiàn)接觸的特征,可通過(guò)光學(xué)放大及光強(qiáng)調(diào)節(jié)進(jìn)行測(cè)量,搭配智能對(duì)焦系統(tǒng),可以輕松識(shí)別邊緣,快速定位產(chǎn)品輪廓特征,如微型特征,深槽內(nèi)特征及接觸易變形材料或薄件等;影像聚焦功能也能滿足現(xiàn)場(chǎng)產(chǎn)品尺寸高度、平面度的檢測(cè)需要;搭配多種復(fù)合傳感器,實(shí)現(xiàn)二維平面尺寸+高度尺寸一次性測(cè)量 ,也可隨意搭配常規(guī)的卡尺、高度計(jì)等檢測(cè)工具,一次測(cè)量后數(shù)據(jù)傳輸?shù)蕉ㄖ茍?bào)告模板中。
1.量測(cè)工具:掃描提取邊緣點(diǎn)、多段提取邊緣點(diǎn)、圓形提取邊緣點(diǎn)、橢圓提取、框選提取輪廓線、聚焦點(diǎn)、最近點(diǎn)等。
2.可測(cè)幾何量: 點(diǎn)、線、圓(圓心坐標(biāo)、半徑、直徑)、圓弧、中心、角度、距、線寬、孔位、孔徑、孔數(shù)、孔到孔的距離、孔到邊的距離、弧線中心到孔的距離、弧線中心到邊的距離、弧線高點(diǎn)到弧線高點(diǎn)的距離、交叉點(diǎn)到交叉點(diǎn)的距離等。
3.構(gòu)建特征:交點(diǎn)、中心點(diǎn)、極值點(diǎn)、端點(diǎn)、兩點(diǎn)連線、平行線、垂線、切線、平分線、中心線、線段融合、半徑畫圓、三線內(nèi)切圓、兩線半徑內(nèi)切圓等。
4.形位公差:直線度、圓度、輪廓度、位置度、平行度、對(duì)稱度、垂直度、同心度、平行度等形位公差評(píng)定。
5.坐標(biāo)系:儀器坐標(biāo)系、點(diǎn)線、兩點(diǎn) X、兩線等工件坐標(biāo)系;圖像配準(zhǔn)坐標(biāo)系;可平移、旋轉(zhuǎn)、手工調(diào)整坐標(biāo)系。
6.快速工具:R角、水平節(jié)距、圓周節(jié)距、篩網(wǎng)、槽孔、輪廓比對(duì)、彈簧、O型圈等特殊工具快速測(cè)量。
7.支持公差批量設(shè)置、比例等級(jí)劃分、顏色自定義管理。
中圖儀器二次元檢測(cè)影像儀測(cè)量設(shè)備非接觸式測(cè)量利用光學(xué)測(cè)量技術(shù)無(wú)需接觸產(chǎn)品表面,可實(shí)現(xiàn)效率高的測(cè)量,效率高。以非接觸式的光學(xué)測(cè)量為主,接觸式測(cè)量為輔,各傳感器的快速切換,可進(jìn)行全且準(zhǔn)的測(cè)量任務(wù)。
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